工業(yè)電子內(nèi)窺鏡檢測(cè)原理
日期：2024-11-23 18:41
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摘要：
工業(yè)電子內(nèi)窺鏡檢測(cè)原理
定義
中文名稱：無(wú)損探傷、無(wú)損檢查、無(wú)損檢驗(yàn)、無(wú)損檢測(cè)、無(wú)損評(píng)價(jià)
英文名稱：nondestructive testing，NDT，nondestructive evaluating，NDE;nondestructive test
工業(yè)電子內(nèi)窺鏡，是無(wú)損檢測(cè)的一個(gè)分支，也可以說(shuō)是專門的一個(gè)檢測(cè)技術(shù)。
方法
(工業(yè)電子內(nèi)窺鏡)目視檢測(cè)(VT)、射線照相檢驗(yàn)(RT)、超聲檢測(cè)(UT)、磁粉檢測(cè)(MT)和液體滲透檢測(cè)(PT) 四種。其他無(wú)損檢測(cè)方法：渦流檢測(cè)(ET)、聲發(fā)射檢測(cè)(AT)、熱像/紅外(TIR)、泄漏試驗(yàn)(LT)、交流場(chǎng)測(cè)量技術(shù)(ACFMT)、漏磁檢驗(yàn)(MFL)、遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試檢測(cè)方法(RFT)等。
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